鼠標(biāo)是計算機的一種外接輸入設(shè)備，也是計算機顯示系統(tǒng)縱橫坐標(biāo)定位的指示器，目前鼠標(biāo)的種類有滾球鼠標(biāo)、光電鼠標(biāo)、無線鼠標(biāo)。鼠標(biāo)是我們常用的電子設(shè)備，它替代了鍵盤繁瑣的指令，使計算機的操作更加簡便快捷。對鼠標(biāo)進行環(huán)境可靠性測試，能夠暴露和分析鼠標(biāo)在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機理，檢驗鼠標(biāo)性能及質(zhì)量，從而保障出廠鼠標(biāo)的品質(zhì)。
有資料顯示，電子產(chǎn)品故障的52%失效是由環(huán)境效應(yīng)引起：其中由溫度引起的占40%，由振動引起的占27%，由濕度引起的占19%，其余14%是砂塵、鹽霧等因素引發(fā)的故障，可見影響電子產(chǎn)品使用的因子是很多的，就以鼠標(biāo)為例子，如果溫度過高的確可能會出現(xiàn)鼠標(biāo)的燃燒和短路的現(xiàn)象。
安徽奧科為大家整理了3個常用的鼠標(biāo)環(huán)境可靠性測試解決方案，方案如下：
一、高低溫存儲試驗
測試條件 |
1. 高溫儲存：溫度65±2℃，存放時間72h； 2. 低溫儲存：溫度-40℃，存放時間72h；
※高低溫儲存測試完成后，均需置于常溫下2h后檢測其功能是否正常。 |
二、高溫高濕試驗
測試條件 |
溫度65℃/2h，濕度93%RH，測試完成后，置于常溫下2h后檢測其功能是否正常。 |
三、溫度沖擊試驗
測試條件 |
低溫-40℃/2h，高溫65℃/2h，1min內(nèi)循環(huán)數(shù)5 更多環(huán)境可靠性解決方案可致電咨詢我們，安徽奧科將為你提供專業(yè)的解決方案。 |
